Analyse par impact

Analyse par impact m+p international

Le module Acquisition par Impact comprend des outils de sélection du déplacement du point de mesure ou de l'excitation, de détection de rebond et de rejet de la mesure perturbée, de paramétrage des pondérations Force/Exponentielle et des configurations d'affichage pour faciliter la mesure. La combinaison de l'incrémentation automatique des nœuds/directions, le rejet des mesures invalides, et la sauvegarde automatique des mesures sur des critères paramétrables éliminent grandement l'interaction avec le clavier du PC. Ce qui est très appréciable lors d'essais par impact sur des structures de grandes dimensions ou difficiles d'accès.

  • Points clefs

Analyse par impact

  • Liste non limitée d'informations Utilisateur (metadata) pour annoter, récupérer, trier, et éditer un rapport
  • Entrée aisée des paramètres pour les voies à partir de tableaux regroupant unités, sensibilité du capteur, couplage
  • Nature de la voie : excitation, réponse, inactive ; couplage selon le frontal : AC/DC, ICP®, Charge ; gamme pleine échelle, offset, préamplification
  • Capteur : entrée des données du capteur ou import via Excel
  • Déplacement du point de frappe ou du capteur de mesure
  • Sélection aisée des points de mesure et des directions
  • Acquisition : fréquence d'échantillonnage ou bande utile, taille du bloc, déclenchement
  • Seuil de déclenchement et pré-déclenchement paramétrables
  • Traitement des données et archivage : signal temporel ; spectre, auto et inter spectre (Puissance ou DSP), FRF, cohérence
  • Moyennage linéaire
  • Pondérations temporelles : Force, paramétrable en % de la durée du bloc ; Exponentielle paramétrable en % du niveau en fin de bloc
  • Détection automatique de rebond et rejet des données perturbées
  • Déroulement pas à pas avec le minimum d'interaction au clavier pendant les acquisitions aux nœuds présélectionnés avec sauvegarde des mesures
  • Configuration des affichages (temps, spectre, FRF, cohérence)
  • Sauvegarde et rappel des configurations de mesure et d'affichage